型號： 008
測試探針
精準穩定｜宜笙光電IC測試探針
在半導體與電子製造領域中，IC測試探針扮演重要角色。宜笙光電專業生產各式導電膠探針，協助客戶在IC或PCB測試中達成高精度電氣連接，提升測試效率與產品品質。IC測試探針在測試過程中的作用
- 測量電氣信號：測試探針用來在測試過程中與IC（集成電路）或PCB（印刷電路板）上的接點接觸，從而測量電氣信號、電壓、電流或其他電性能指標，確保電路的功能正常。
- 檢查電路連接：測試探針幫助檢查PCB上的每個接點是否有正確的連接，確保沒有開路或短路，並確保電路的完整性。
- 防止損傷：導電包膠針通常會被包裹上柔軟的膠層，這樣能避免在測試過程中對敏感的IC元件或PCB表面造成物理損傷，同時保持測試接觸的穩定性。
- 精確接觸測試點：測試探針的設計可精確接觸到非常小的測試點，對於高密度的PCB或微型IC來說尤為重要。這些導電針的高精度和靈活性有助於在測試過程中避免誤接或測試失敗。
- 測試功能檢查：在IC測試中，IC測試探針可用來連接IC的各個引腳，通過測量信號的變化來檢查IC的功能是否正常。這能確保IC在出廠前符合設計規範，從而避免不良品流入市場。
宜笙光電的導電膠探針
- EST166 導電膠探針： EST166導電膠探針採用優質導電膠材料，具有良好的導電性和耐高溫性，適用於各種電子產品的測試與連接。
- T1G1171 導電銀膠探針：T1G1171導電銀膠探針導電性能優異，抗氧化能力強，特別適用於高頻、高密度接點的測試。
01.EST166 導電膠探針
02.T1G1171 導電銀膠探針
